Eötvös Loránd Tudományegyetem
"Európai Léptékkel a Tudásért, ELTE"
Kutatóegyetemi pályázat

The dislocation density and twin-boundary frequency determined by X-ray peak profile analysis in cold rolled magnetron-sputter deposited nanotwinned copper

 

Szerző: Gábor Csiszár, Levente Balogh, Amit Misra, Xinghang Zhang, Tamás Ungár
Típus: Tudományos szakfolyóiratban, periodikában, konferenciakötetben, cikkgyűjteményben, enciklopédiában "peer review"-t követően megjelent közlemény
Alprojekt: 2.1 Anyagtudományi kutatások
Tudományág: fizikai tudományok
Terjedelem: 7 oldal
Nyelv: angol
Kivonat URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3622333
A kiadvány típusa: folyóirat
A folyóirat neve: J. Appl. Phys.
A folyóirat évfolyama: 2011
A folyóirat megjelenési éve: 2011
Kezdő oldalszám: -
A folyóirat kötetszáma: 110
A folyóirat füzetszáma: 4
Megjegyzés: http://jap.aip.org/resource/1/japiau/v110/i4/p043502_s1